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Using Scale Information to Improve SIFT-Based Electron Microscope Image Registration Method 会议论文
, 中国浙江省杭州市, 2019-9
作者:  Chen BH(陈波昊);  Chang S(常胜);  Chen X(陈曦);  Han H(韩华)
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SIFT  Image Registration  RANSAC  Electron Microscope  
Face Anti-Spoofing by Learning Polarization Cues in a Real-World Scenario 会议论文
, Chengdu, China, November 13 - 15, 2020
作者:  Tian, Yu;  Zhang, Kunbo;  Wang, Leyuan;  Sun, Zhenan
Adobe PDF(3838Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：231/52  |  提交时间：2021/10/08
Dynamic Refinement Network for Oriented and Densely Packed Object Detection 会议论文
, Seattle, WA, USA, USA, 13-19 June 2020
作者:  Pan, Xingjia;  Ren, Yuqiang;  Sheng, Kekai;  Dong, Weiming;  Yuan, Haolei;  Guo, Xiaowei;  Ma, Chongyang;  Xu, Changsheng
Adobe PDF(942Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：415/111  |  提交时间：2020/12/21
object detection  dynamic  refinement  densely packed  oriented