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Learning Multi-Resolution Features for Unsupervised Anomaly Localization on Industrial Textured Surfaces 期刊论文
IEEE Transactions on Artificial Intelligence, 2024, 页码: 1-13
作者:  Tao X(陶显);  Shaohua Yan;  Xinyi Gong;  Chandranath Adak
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Deep Learning for Unsupervised Anomaly Localization in Industrial Images: A Survey 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2022, 卷号: 71, 页码: 21
作者:  Tao, Xian;  Gong, Xinyi;  Zhang, Xin;  Yan, Shaohua;  Adak, Chandranath
Adobe PDF(7056Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：255/1  |  提交时间：2022/09/19
Anomaly localization (AL)  deep learning  industrial inspection  literature survey  unsupervised learning