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UTR: UNSUPERVISED LEARNING OF THICKNESS-INSENSITIVE REPRESENTATIONS FOR ELECTRON MICROSCOPE IMAGE 会议论文
, 美国阿拉斯加, 2021-10
作者:  Xin T(辛桐);  Chen BH(陈波昊);  Chen X(陈曦);  Han H(韩华)
Adobe PDF(2365Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：208/38  |  提交时间：2022/06/14
Feature Descriptor  Unsupervised learning  Electron Microscopy  Image registration  FIB-SEM