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Expected affine: A registration method for damaged section in serial sections electron microscopy 期刊论文
FRONTIERS IN NEUROINFORMATICS, 2022, 卷号: 16, 页码: 11
作者:  Xin, Tong;  Shen, Lijun;  Li, Linlin;  Chen, Xi;  Han, Hua
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image registration  SSEM  broken sections  section fold  section crack  
Human attention-inspired volume reconstruction method on serial section electron microscopy images 期刊论文
CYTOMETRY PART A, 2021, 页码: 11
作者:  Zhou, Fangxu;  Shen, Lijun;  Chen, Bohao;  Chen, Xi;  Hua, Han
收藏  |  浏览/下载：216/0  |  提交时间：2021/04/27
3D volume reconstruction  electron microscopy image  image registration