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Using Scale Information to Improve SIFT-Based Electron Microscope Image Registration Method 会议论文
, 中国浙江省杭州市, 2019-9
作者:  Chen BH(陈波昊);  Chang S(常胜);  Chen X(陈曦);  Han H(韩华)
Adobe PDF(554Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：174/60  |  提交时间：2022/06/14
SIFT  Image Registration  RANSAC  Electron Microscope  
UTR: UNSUPERVISED LEARNING OF THICKNESS-INSENSITIVE REPRESENTATIONS FOR ELECTRON MICROSCOPE IMAGE 会议论文
, 美国阿拉斯加, 2021-10
作者:  Xin T(辛桐);  Chen BH(陈波昊);  Chen X(陈曦);  Han H(韩华)
Adobe PDF(2365Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：236/45  |  提交时间：2022/06/14
Feature Descriptor  Unsupervised learning  Electron Microscopy  Image registration  FIB-SEM  
Robust Global Optimized Affine Registration Method for Microscopic Images of Biological Tissue 会议论文
, Barcelona, Spain, 4-8 May 2020
作者:  Lv YN(吕亚楠);  Chen X(陈曦);  Shu C(舒畅);  Han H(韩华)
Adobe PDF(579Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：243/69  |  提交时间：2021/05/26
Volume reconstruction  registration  affine transformation  
Deep Learning and Shapes Similarity for Joint Segmentation and Tracing single Neurons in SEM images 会议论文
, 美国 奥兰多, 2017-2-10
作者:  Rao Q(饶强);  Xiao C(肖驰);  Han H(韩华);  Shen LJ(沈丽君);  Chen X(陈曦);  Xie QW(谢启伟)
浏览  |  Adobe PDF(1219Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：444/214  |  提交时间：2017/06/06
Deep Convolutional Neural Network  Active Contour  Neuron Reconstruction  Membrane Detection Probability Map  Neuron Tracing