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Multi-class blind steganalysis based on image run-length analysis 会议论文
Digital Watermarking, Guildford, UK, August 24-26, 2009
作者:  Dong, Jing;  Wang, Wei;  Tan, Tieniu
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Steganalysis  Multi-classes  
Three-dimensional microscopy and sectional image reconstruction using optical scanning holography 期刊论文
Applied Optics, 2009, 卷号: 48, 期号: 34, 页码: H113
作者:  Zhang X(张鑫);  Edmund Lam
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Osh