中文版 | English

在结果中检索

CASIA OpenIR
（本次检索基于用户作品认领结果）

浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助

限定条件                
已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
Conductive Particle Detection for Chip on Glass Using Convolutional Neural Network 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2021, 卷号: 70, 期号: 1, 页码: 1-10
作者:  Tao X(陶显);  Ma WZ(马文治);  Lu ZF(逯正峰);  Hou ZX(侯占新)
Adobe PDF(3208Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：248/58  |  提交时间：2022/03/03
缺陷检测  
A Self-Supervised CNN for Particle Inspection on Optical Element 期刊论文
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2021, 卷号: 70, 期号: 1, 页码: 1-12
作者:  Hou W(侯伟);  Tao X(陶显);  Xu D(徐德)
Adobe PDF(2721Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：273/65  |  提交时间：2021/06/21
Inspection  Feature reuse  optical element  particle inspection  self-supervised learning  transfer learning