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UTR: UNSUPERVISED LEARNING OF THICKNESS-INSENSITIVE REPRESENTATIONS FOR ELECTRON MICROSCOPE IMAGE 会议论文
, 美国阿拉斯加, 2021-10
作者:  Xin T(辛桐);  Chen BH(陈波昊);  Chen X(陈曦);  Han H(韩华)
Adobe PDF(2365Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：264/55  |  提交时间：2022/06/14
Feature Descriptor  Unsupervised learning  Electron Microscopy  Image registration  FIB-SEM  
Microscopic neural image registration based on the structure of mitochondria 会议论文
, Orlando Florida, 2017-02-10至2017-02-16
作者:  Cao HW(曹会文);  Han H(韩华);  Rao Q(饶强);  Xiao C(肖驰);  Chen X(陈曦);  Chen X(陈曦)
浏览  |  Adobe PDF(1065Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：425/154  |  提交时间：2017/06/06
Neural Image Registration  Scanning Electron Microscopy (Sem)  Mitochondria Structure  Landmarks