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Investigating Shift Equivalence of Convolutional Neural Networks in Industrial Defect Segmentation 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2023, 页码: 1-17
作者:  Qu Z(屈震);  Tao X(陶显);  Shen F(沈飞);  Zhang ZT(张正涛);  Li T(李涛)
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A Fast Surface Defect Detection Method Based on Background Reconstruction 期刊论文
INTERNATIONAL JOURNAL OF PRECISION ENGINEERING AND MANUFACTURING, 2019, 卷号: 21, 期号: 3, 页码: 363-375
作者:  Lv, Chengkan;  Zhang, Zhengtao;  Shen, Fei;  Zhang, Feng;  Su, Hu
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Defect detection  Unsupervised learning  Background reconstruction