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A Simple Calibration Method of Structured Light Plane Parameters for 会议论文
, chengdu, July 27-29, 2016
作者:  Fan JF(范俊峰);  Jing FS(景奉水);  Fang ZJ(方灶军);  Tan M(谭民)
Adobe PDF(533Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：116/45  |  提交时间：2019/04/27
A TDC-Based nano-scale displacement measure method inside Scanning Electron Microscopes 会议论文
, Qingdao, China, 2016-12
作者:  Chao Zhou;  Yu Wang;  Zhengxing Wu;  Lu Deng;  Zhiqiang Cao;  Shuo Wang;  Min Tan
Adobe PDF(413Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：298/62  |  提交时间：2017/09/20