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基于结构光的高光表面三维缺陷检测方法研究 学位论文
, 中国科学院自动化研究所: 中国科学院自动化研究所, 2022
作者:  吴科
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高光表面  结构光  多曝光融合  三维重建  缺陷检测  
获取格雷码结构光图像的方法、系统、装置 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: ZL201910988331.3, 申请日期: 2021-05-04, 公开日期: 2019-10-17
发明人:  谭杰;  吴科;  夏海伦
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