中文版 | English

在结果中检索

CASIA OpenIR

浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助

限定条件        
已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
Conductive Particle Detection for Chip on Glass Using Convolutional Neural Network 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2021, 卷号: 70, 期号: 1, 页码: 1-10
作者:  Tao X(陶显);  Ma WZ(马文治);  Lu ZF(逯正峰);  Hou ZX(侯占新)
Adobe PDF(3208Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：235/56  |  提交时间：2022/03/03
缺陷检测  
Visual Defect Inspection for Deep-Aperture Components With Coarse-to-Fine Contour Extraction 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2020, 卷号: 69, 期号: 6, 页码: 3262-3274
作者:  Gong, Xinyi;  Su, Hu;  Xu, De;  Zhang, Jiabin;  Zhang, Lei;  Zhang, Zhengtao
浏览  |  Adobe PDF(1324Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：340/72  |  提交时间：2020/08/03
Coarse-fine positioning  deep-hole component  defect inspection  edge grouping  image processing