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iVAT and aVAT: visual analysis for cluster tendency assessment 会议论文
, 2010
作者:  Liang Wang;  Uyen Nguyen;  Christopher Leckie;  James Bezdek;  Ramamohanarao Kotagiri
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Enhanced Visual Analysis for Cluster Tendency Assessment and Data Partitioning 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON KNOWLEDGE AND DATA ENGINEERING, 2010, 卷号: 22, 期号: 10, 页码: 1401-1414
作者:  Wang, Liang;  Geng, Xin;  Bezdek, James;  Leckie, Christopher;  Ramamohanarao, Kotagiri
收藏  |  浏览/下载：217/0  |  提交时间：2015/11/08
Clustering  Vat  Cluster Tendency  Spectral Embedding  Out-of-sample Extension