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Expected affine: A registration method for damaged section in serial sections electron microscopy 期刊论文
FRONTIERS IN NEUROINFORMATICS, 2022, 卷号: 16, 页码: 11
作者:  Xin, Tong;  Shen, Lijun;  Li, Linlin;  Chen, Xi;  Han, Hua
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image registration  SSEM  broken sections  section fold  section crack  
Using Scale Information to Improve SIFT-Based Electron Microscope Image Registration Method 会议论文
, 中国浙江省杭州市, 2019-9
作者:  Chen BH(陈波昊);  Chang S(常胜);  Chen X(陈曦);  Han H(韩华)
Adobe PDF(554Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：174/60  |  提交时间：2022/06/14
SIFT  Image Registration  RANSAC  Electron Microscope  
UTR: UNSUPERVISED LEARNING OF THICKNESS-INSENSITIVE REPRESENTATIONS FOR ELECTRON MICROSCOPE IMAGE 会议论文
, 美国阿拉斯加, 2021-10
作者:  Xin T(辛桐);  Chen BH(陈波昊);  Chen X(陈曦);  Han H(韩华)
Adobe PDF(2365Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：238/45  |  提交时间：2022/06/14
Feature Descriptor  Unsupervised learning  Electron Microscopy  Image registration  FIB-SEM  
Human attention-inspired volume reconstruction method on serial section electron microscopy images 期刊论文
CYTOMETRY PART A, 2021, 页码: 11
作者:  Zhou, Fangxu;  Shen, Lijun;  Chen, Bohao;  Chen, Xi;  Hua, Han
收藏  |  浏览/下载：242/0  |  提交时间：2021/04/27
3D volume reconstruction  electron microscopy image  image registration