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Unsupervised Anomaly Detection for Surface Defects with Dual-Siamese Network 期刊论文
IEEE Transactions on Industrial Informatics, 2022, 卷号: 1, 期号: 1, 页码: 1-11
作者:  Tao X(陶显);  Da-Peng Zhang;  Ma WZ(马文治);  Hou ZX(侯占新);  Lu ZF(逯正峰);  Chandranath Adak
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缺陷检测  
Combining Prior Knowledge With CNN for Weak Scratch Inspection of Optical Components 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2021, 卷号: 70, 期号: 1, 页码: 11
作者:  Hou, Wei;  Tao, Xian;  Xu, De
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Convolutional neural network (CNN)  direction-sensitive convolution (DSC)  local maximum index (LMI)  optical component  weak scratch inspection