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Conductive Particle Detection for Chip on Glass Using Convolutional Neural Network 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2021, 卷号: 70, 期号: 1, 页码: 1-10
作者:  Tao X(陶显);  Ma WZ(马文治);  Lu ZF(逯正峰);  Hou ZX(侯占新)
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缺陷检测  
A Novel Pixel-Wise Defect Inspection Method Based on Stable Background Reconstruction 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2021, 卷号: 70, 页码: 13
作者:  Lv, Chengkan;  Shen, Fei;  Zhang, Zhengtao;  Xu, De;  He, Yonghao
Adobe PDF(4910Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：297/65  |  提交时间：2021/11/03
Anomaly detection  autoencoder  background reconstruction  defect inspection