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Visual Defect Inspection for Deep-Aperture Components With Coarse-to-Fine Contour Extraction 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2020, 卷号: 69, 期号: 6, 页码: 3262-3274
作者:  Gong, Xinyi;  Su, Hu;  Xu, De;  Zhang, Jiabin;  Zhang, Lei;  Zhang, Zhengtao
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Coarse-fine positioning  deep-hole component  defect inspection  edge grouping  image processing  
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Zhu, Zheng;  Zou, Wei;  Zhang, Feng
Adobe PDF(1325Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：53/14  |  提交时间：2019/04/30