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Mask-Guided Generation Method for Industrial Defect Images with Non-uniform Structures 期刊论文
MACHINES, 2022, 卷号: 10, 期号: 12, 页码: 17
作者:  Wei, Jing;  Zhang, Zhengtao;  Shen, Fei;  Lv, Chengkan
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industrial manufacturing  deep learning  data augmentation  defect generation  defect detection  
A Novel Pixel-Wise Defect Inspection Method Based on Stable Background Reconstruction 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2021, 卷号: 70, 页码: 13
作者:  Lv, Chengkan;  Shen, Fei;  Zhang, Zhengtao;  Xu, De;  He, Yonghao
Adobe PDF(4910Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：284/63  |  提交时间：2021/11/03
Anomaly detection  autoencoder  background reconstruction  defect inspection  
A Fast Surface Defect Detection Method Based on Background Reconstruction 期刊论文
INTERNATIONAL JOURNAL OF PRECISION ENGINEERING AND MANUFACTURING, 2019, 卷号: 21, 期号: 3, 页码: 363-375
作者:  Lv, Chengkan;  Zhang, Zhengtao;  Shen, Fei;  Zhang, Feng;  Su, Hu
Adobe PDF(2471Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：353/48  |  提交时间：2020/03/30
Defect detection  Unsupervised learning  Background reconstruction