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Investigating Shift Equivalence of Convolutional Neural Networks in Industrial Defect Segmentation 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2023, 页码: 1-17
作者:  Qu Z(屈震);  Tao X(陶显);  Shen F(沈飞);  Zhang ZT(张正涛);  Li T(李涛)
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Unsupervised Anomaly Detection for Surface Defects with Dual-Siamese Network 期刊论文
IEEE Transactions on Industrial Informatics, 2022, 卷号: 1, 期号: 1, 页码: 1-11
作者:  Tao X(陶显);  Da-Peng Zhang;  Ma WZ(马文治);  Hou ZX(侯占新);  Lu ZF(逯正峰);  Chandranath Adak
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缺陷检测  
Precision size measurement instrument for irregular objects 会议论文
, Beijing, 2015.08.22-2015.08.24
作者:  Wanji Liu;  Tao Xian
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