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Unsupervised Anomaly Detection for Surface Defects with Dual-Siamese Network 期刊论文
IEEE Transactions on Industrial Informatics, 2022, 卷号: 1, 期号: 1, 页码: 1-11
作者:  Tao X(陶显);  Da-Peng Zhang;  Ma WZ(马文治);  Hou ZX(侯占新);  Lu ZF(逯正峰);  Chandranath Adak
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缺陷检测  
Color‐Guided Depth Map Super‐Resolution Using a Dual‐Branch Multi‐Scale Residual Network with Channel Interaction 期刊论文
Sensors, 2020, 卷号: 20, 期号: 6, 页码: 1560
作者:  陈睿进;  高伟
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Depth Map  Super‐resolution  Guidance  Residual Network  Channel Interaction