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Expected affine: A registration method for damaged section in serial sections electron microscopy 期刊论文
FRONTIERS IN NEUROINFORMATICS, 2022, 卷号: 16, 页码: 11
作者:  Xin, Tong;  Shen, Lijun;  Li, Linlin;  Chen, Xi;  Han, Hua
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image registration  SSEM  broken sections  section fold  section crack  
A Method for Identification of Multisynaptic Boutons in Electron Microscopy Image Stack of Mouse Cortex 期刊论文
APPLIED SCIENCES-BASEL, 2019, 卷号: 9, 期号: 13, 页码: 19
作者:  Deng, Hao;  Ma, Chao;  Han, Hua;  Xie, Qiwei;  Shen, Lijun
收藏  |  浏览/下载：275/0  |  提交时间：2019/12/16
electron microscopy  multisynaptic bouton  convolutional neural network  image processing  synapse  neuron