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Expected affine: A registration method for damaged section in serial sections electron microscopy 期刊论文
FRONTIERS IN NEUROINFORMATICS, 2022, 卷号: 16, 页码: 11
作者:  Xin, Tong;  Shen, Lijun;  Li, Linlin;  Chen, Xi;  Han, Hua
收藏  |  浏览/下载：198/0  |  提交时间：2022/11/14
image registration  SSEM  broken sections  section fold  section crack  
Performance Analysis in Serial-section Electron Microscopy Image Registration of Neuronal Tissue 会议论文
, 美国圣地亚哥, 2022-1
作者:  Chen BH(陈波昊);  Xin T(辛桐);  Han H(韩华);  Chen X(陈曦)
Adobe PDF(1634Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：227/55  |  提交时间：2022/06/14
Registration accuracy  Serial section  Neuronal structure  Spherical deformation model