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Collection of charge in NMOS from single event effect 期刊论文
IEICE ELECTRONICS EXPRESS, 2016, 卷号: 13, 期号: 8, 页码: 1-8
作者:  Wang, Jingqiu;  Lin, Fujiang;  Wang, Donglin;  Song, Wenna;  Liu, Li;  Song, Qiwei;  Chen, Liang
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Single Event Effect  Ultra Deep Sub-micron  Double Exponential Transient Current Model  Multi-dimensional  
A Kind of Precision Recommendation Method for Massive Public Digital Culture Resources ——A Preliminary Report 会议论文
BigMM2016, 台北, 2016.04.20
作者:  Zhai XS(翟小双);  Jin F(金锋);  Wang J(王健);  Yang Y(杨颐);  Yao Q(姚琦);  Qiu QW(邱琼文);  Zhang GG(张桂刚)
Adobe PDF(224Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：286/74  |  提交时间：2016/04/15