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Learning Multi-Resolution Features for Unsupervised Anomaly Localization on Industrial Textured Surfaces 期刊论文
IEEE Transactions on Artificial Intelligence, 2024, 页码: 1-13
作者:  Tao X(陶显);  Shaohua Yan;  Xinyi Gong;  Chandranath Adak
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The Development and Prospect of Surface Defect Detection Based on Vision Measurement Method 会议论文
, 中国桂林, 2016.05.12-2016.05.15
作者:  Yuan LX(袁伦喜);  Zhang ZT(张正涛);  Tao X(陶显)
浏览  |  Adobe PDF(657Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：744/303  |  提交时间：2017/05/10
Defect Detect  Vision Measurement