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Deep Learning for Unsupervised Anomaly Localization in Industrial Images: A Survey 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2022, 卷号: 71, 页码: 21
作者:  Tao, Xian;  Gong, Xinyi;  Zhang, Xin;  Yan, Shaohua;  Adak, Chandranath
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Anomaly localization (AL)  deep learning  industrial inspection  literature survey  unsupervised learning  
Unsupervised Anomaly Detection for Surface Defects with Dual-Siamese Network 期刊论文
IEEE Transactions on Industrial Informatics, 2022, 卷号: 1, 期号: 1, 页码: 1-11
作者:  Tao X(陶显);  Da-Peng Zhang;  Ma WZ(马文治);  Hou ZX(侯占新);  Lu ZF(逯正峰);  Chandranath Adak
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缺陷检测  
Detection of Power Line Insulator Defects using Aerial Images Analyzed with Convolutional Neural Networks 期刊论文
IEEE Transactions on Systems Man Cybernetics-Systems, 2018, 卷号: 50, 期号: 0, 页码: 0
作者:  Tao Xian;  Zhang Dapeng;  Wang Zihao;  Liu Xilong;  Zhang Hongyan;  Xu De
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Defect Detection  Insulators  Aerial Image  Convolutional Neural Network