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出处:IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT
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Investigating Shift Equivalence of Convolutional Neural Networks in Industrial Defect Segmentation
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2023, 页码: 1-17
作者:
Qu Z(屈震)
;
Tao X(陶显)
;
Shen F(沈飞)
;
Zhang ZT(张正涛)
;
Li T(李涛)
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提交时间:2024/06/04
A Streamlined 3-D Magnetic Particle Imaging System With a Two-Stage Excitation Feed-Through Compensation Strategy
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2023, 卷号: 72, 页码: 1-10
作者:
Yin L(尹琳)
;
Li W(李玮)
;
Bian ZW(卞忠伟)
;
Chen ZW(陈梓威)
;
Liu YJ(刘晏君)
;
Zhong J(钟景)
;
Zhang SX(张水兴)
;
Du Y(杜洋)
;
Hui H(惠辉)
;
Tian J(田捷)
Adobe PDF(3893Kb)
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提交时间:2024/03/26
3-D imaging
compensation strategy
magnetic particle imaging (MPI)
Deep Learning for Unsupervised Anomaly Localization in Industrial Images: A Survey
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2022, 卷号: 71, 页码: 21
作者:
Tao, Xian
;
Gong, Xinyi
;
Zhang, Xin
;
Yan, Shaohua
;
Adak, Chandranath
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提交时间:2022/09/19
Anomaly localization (AL)
deep learning
industrial inspection
literature survey
unsupervised learning
Visual Defect Inspection for Deep-Aperture Components With Coarse-to-Fine Contour Extraction
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2020, 卷号: 69, 期号: 6, 页码: 3262-3274
作者:
Gong, Xinyi
;
Su, Hu
;
Xu, De
;
Zhang, Jiabin
;
Zhang, Lei
;
Zhang, Zhengtao
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提交时间:2020/08/03
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