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Visual Defect Inspection for Deep-Aperture Components With Coarse-to-Fine Contour Extraction 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2020, 卷号: 69, 期号: 6, 页码: 3262-3274
作者:  Gong, Xinyi;  Su, Hu;  Xu, De;  Zhang, Jiabin;  Zhang, Lei;  Zhang, Zhengtao
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Coarse-fine positioning  deep-hole component  defect inspection  edge grouping  image processing  
Research progress of parallel control and management 期刊论文
IEEE-CAA JOURNAL OF AUTOMATICA SINICA, 2020, 卷号: 7, 期号: 2, 页码: 355-367
作者:  Xiong, Gang;  Dong, Xisong;  Lu, Hao;  Shen, Dayong
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ACP methodology  artificial systems  computational experiments  parallel control  parallel management  parallel systems