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A Self-Supervised CNN for Particle Inspection on Optical Element 期刊论文
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2021, 卷号: 70, 期号: 1, 页码: 1-12
作者:  Hou W(侯伟);  Tao X(陶显);  Xu D(徐德)
Adobe PDF(2721Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：260/64  |  提交时间：2021/06/21
Inspection  Feature reuse  optical element  particle inspection  self-supervised learning  transfer learning  
Industrial Weak Scratches Inspection Based on Multifeature Fusion Network 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2021, 卷号: 70, 期号: 1, 页码: 14
作者:  Tao, Xian;  Zhang, Dapeng;  Hou, Wei;  Ma, Wenzhi;  Xu, De
Adobe PDF(11203Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：361/50  |  提交时间：2021/03/08
Deep learning  defect detection  machine vision  multiple feature fusion  weak scratch inspection  
Industrial WeakScratches Inspection Based on Multi-Feature Fusion Network 期刊论文
IEEE Transaction on Instrumentation and Measurement, 2020, 期号: 1, 页码: 1-14
作者:  Tao Xian;  Zhang DP(张大朋);  Hou wei;  Ma wenzhi;  Xu De
浏览  |  Adobe PDF(5789Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：257/65  |  提交时间：2020/10/20
Weak scratch inspection, Defect Detection, MultipleFeatureFusion,DeepLearning,MachineVision