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Conductive Particle Detection for Chip on Glass Using Convolutional Neural Network 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2021, 卷号: 70, 期号: 1, 页码: 1-10
作者:  Tao X(陶显);  Ma WZ(马文治);  Lu ZF(逯正峰);  Hou ZX(侯占新)
Adobe PDF(3208Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：229/54  |  提交时间：2022/03/03
缺陷检测  
Unsupervised Anomaly Detection for Surface Defects with Dual-Siamese Network 期刊论文
IEEE Transactions on Industrial Informatics, 2022, 卷号: 1, 期号: 1, 页码: 1-11
作者:  Tao X(陶显);  Da-Peng Zhang;  Ma WZ(马文治);  Hou ZX(侯占新);  Lu ZF(逯正峰);  Chandranath Adak
Adobe PDF(8384Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：247/53  |  提交时间：2022/03/03
缺陷检测  
Industrial Weak Scratches Inspection Based on Multifeature Fusion Network 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2021, 卷号: 70, 期号: 1, 页码: 14
作者:  Tao, Xian;  Zhang, Dapeng;  Hou, Wei;  Ma, Wenzhi;  Xu, De
Adobe PDF(11203Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：353/49  |  提交时间：2021/03/08
Deep learning  defect detection  machine vision  multiple feature fusion  weak scratch inspection  
SACNN: Spatial Adversarial Convolutional Neural Network for Textile Defect Detection 期刊论文
FIBRES & TEXTILES IN EASTERN EUROPE, 2020, 卷号: 28, 期号: 6, 页码: 127-133
作者:  Hou, Wei;  Tao, Xian;  Ma, Wenzhi;  Xu, De
收藏  |  浏览/下载：180/0  |  提交时间：2021/03/02
textile defect detection  feature extraction  feature competition  CNN  
Industrial WeakScratches Inspection Based on Multi-Feature Fusion Network 期刊论文
IEEE Transaction on Instrumentation and Measurement, 2020, 期号: 1, 页码: 1-14
作者:  Tao Xian;  Zhang DP(张大朋);  Hou wei;  Ma wenzhi;  Xu De
浏览  |  Adobe PDF(5789Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：254/65  |  提交时间：2020/10/20
Weak scratch inspection, Defect Detection, MultipleFeatureFusion,DeepLearning,MachineVision  
Automatic Metallic Surface Defect Detection and Recognition with Convolutional Neural Networks 期刊论文
APPLIED SCIENCES-BASEL, 2018, 卷号: 8, 期号: 9, 页码: 15
作者:  Tao Xian;  Zhang Dapeng;  Ma Wenzhi;  Liu Xilong;  Xu De;  Xian Tao
浏览  |  Adobe PDF(3978Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：952/425  |  提交时间：2018/10/02
metallic surface  autoencoder  convolutional neural network  defect detection