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DAO to Hanoi via DeSci: AI Paradigm Shift from AlphaGo to ChatGPT 期刊论文
IEEE/CAA Journal of Automatica Sinica, 2023, 卷号: 10, 期号: 4, 页码: 877-897
作者:  Miao, Qinghai (proxy) (contact);  Zheng, Wenbo;  吕, 宜生;  Huang, Min;  Ding, Wenwen;  Wang, Fei-Yue
Adobe PDF(4968Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：326/71  |  提交时间：2023/03/22
ChatGPT, decentralized science (DeSci)  decentralized autonomous organization (DAO)  machine learning  paradigm shift  
Squeezing More Past Knowledge for Online Class-Incremental Continual Learning 期刊论文
IEEE/CAA Journal of Automatica Sinica, 2023, 卷号: 10, 期号: 3, 页码: 722-736
作者:  Da Yu;  Mingyi Zhang;  Mantian Li;  Fusheng Zha;  Junge Zhang;  Lining Sun;  Kaiqi Huang
Adobe PDF(7599Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：281/103  |  提交时间：2023/03/02
Catastrophic forgetting  class-incremental learning  continual learning (CL)  experience replay  
Parallel Learning: Overview and Perspective for Computational Learning Across Syn2Real and Sim2Real 期刊论文
IEEE/CAA Journal of Automatica Sinica, 2023, 卷号: 10, 期号: 3, 页码: 603-631
作者:  Qinghai Miao;  Yisheng Lv;  Min Huang;  Xiao Wang;  Fei-Yue Wang
Adobe PDF(11937Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：946/151  |  提交时间：2023/03/02
Machine learning  parallel learning  parallel systems  sim-to-real  syn-to-real  virtual-to-real  
A Survey on Negative Transfer 期刊论文
IEEE/CAA Journal of Automatica Sinica, 2023, 卷号: 10, 期号: 2, 页码: 305-329
作者:  Wen Zhang;  Lingfei Deng;  Lei Zhang;  Dongrui Wu
Adobe PDF(2739Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：280/110  |  提交时间：2023/01/16
Domain adaptation  domain similarity  negative transfer  positive transfer  transfer learning  
Battery Full Life Cycle Management and Health Prognosis Based on Cloud Service and Broad Learning 期刊论文
IEEE/CAA Journal of Automatica Sinica, 2022, 卷号: 9, 期号: 8, 页码: 1540-1542
作者:  Yujie Wang;  Kaiquan Li;  Zonghai Chen
Adobe PDF(2935Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：186/52  |  提交时间：2022/08/01
Data-Driven Based Fault Prognosis for Industrial Systems: A Concise Overview 期刊论文
IEEE/CAA Journal of Automatica Sinica, 2020, 卷号: 7, 期号: 2, 页码: 330-345
作者:  Kai Zhong;  Min Han;  Bing Han
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Data-driven  fault prognosis  feature extraction  industrial systems