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基于显微视觉的表面瑕疵检测与振动测量研究 学位论文
, 北京: 中国科学院研究生院, 2016
作者:  陶显
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大口径光学元件  表面瑕疵检测  振动测量  显微视觉  
A Novel and Effective Surface Flaw Inspection Instrument for Large-Aperture Optical Elements 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2015, 卷号: 64, 期号: 9, 页码: 2530-2540
作者:  Tao, Xian;  Zhang, Zhengtao;  Zhang, Feng;  Xu, De
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Bright-field Imaging System (Bfis)  Dark-field Imaging System (Dfis)  Flaw Inspection  Image Processing  Large-aperture Optical Element  Measurement  Path Planning