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Automatic Unsupervised Fabric Defect Detection Based on Self-Feature Comparison 期刊论文
ELECTRONICS, 2021, 卷号: 10, 期号: 21, 页码: 14
作者:  Peng, Zhengrui;  Gong, Xinyi;  Wei, Bengang;  Xu, Xiangyi;  Meng, Shixiong
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fabric defect  unsupervised learning  computer vision  deep learning  
A Novel Pixel-Wise Defect Inspection Method Based on Stable Background Reconstruction 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2021, 卷号: 70, 页码: 13
作者:  Lv, Chengkan;  Shen, Fei;  Zhang, Zhengtao;  Xu, De;  He, Yonghao
Adobe PDF(4910Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：307/67  |  提交时间：2021/11/03
Anomaly detection  autoencoder  background reconstruction  defect inspection  
A Self-Supervised CNN for Particle Inspection on Optical Element 期刊论文
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2021, 卷号: 70, 期号: 1, 页码: 1-12
作者:  Hou W(侯伟);  Tao X(陶显);  Xu D(徐德)
Adobe PDF(2721Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：284/68  |  提交时间：2021/06/21
Inspection  Feature reuse  optical element  particle inspection  self-supervised learning  transfer learning