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Conductive Particle Detection for Chip on Glass Using Convolutional Neural Network 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2021, 卷号: 70, 期号: 1, 页码: 1-10
作者:  Tao X(陶显);  Ma WZ(马文治);  Lu ZF(逯正峰);  Hou ZX(侯占新)
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缺陷检测  
Automatic Unsupervised Fabric Defect Detection Based on Self-Feature Comparison 期刊论文
ELECTRONICS, 2021, 卷号: 10, 期号: 21, 页码: 14
作者:  Peng, Zhengrui;  Gong, Xinyi;  Wei, Bengang;  Xu, Xiangyi;  Meng, Shixiong
Adobe PDF(1593Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：283/68  |  提交时间：2021/12/28
fabric defect  unsupervised learning  computer vision  deep learning  
A Self-Supervised CNN for Particle Inspection on Optical Element 期刊论文
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2021, 卷号: 70, 期号: 1, 页码: 1-12
作者:  Hou W(侯伟);  Tao X(陶显);  Xu D(徐德)
Adobe PDF(2721Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：294/71  |  提交时间：2021/06/21
Inspection  Feature reuse  optical element  particle inspection  self-supervised learning  transfer learning  
Industrial Weak Scratches Inspection Based on Multifeature Fusion Network 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2021, 卷号: 70, 期号: 1, 页码: 14
作者:  Tao, Xian;  Zhang, Dapeng;  Hou, Wei;  Ma, Wenzhi;  Xu, De
Adobe PDF(11203Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：416/60  |  提交时间：2021/03/08
Deep learning  defect detection  machine vision  multiple feature fusion  weak scratch inspection