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A Novel Pixel-Wise Defect Inspection Method Based on Stable Background Reconstruction 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2021, 卷号: 70, 页码: 13
作者:  Lv, Chengkan;  Shen, Fei;  Zhang, Zhengtao;  Xu, De;  He, Yonghao
Adobe PDF(4910Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：276/62  |  提交时间：2021/11/03
Anomaly detection  autoencoder  background reconstruction  defect inspection  
基于深度学习的表面缺陷检测方法综述 期刊论文
自动化学报, 2021, 卷号: 47, 期号: 5, 页码: 1017-1034
作者:  陶显;  侯伟;  徐德
Adobe PDF(9009Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：290/56  |  提交时间：2021/06/21
深度学习  表面缺陷检测  机器视觉  卷积神经网络  
A Self-Supervised CNN for Particle Inspection on Optical Element 期刊论文
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2021, 卷号: 70, 期号: 1, 页码: 1-12
作者:  Hou W(侯伟);  Tao X(陶显);  Xu D(徐德)
Adobe PDF(2721Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：258/64  |  提交时间：2021/06/21
Inspection  Feature reuse  optical element  particle inspection  self-supervised learning  transfer learning