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A Novel Pixel-Wise Defect Inspection Method Based on Stable Background Reconstruction 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2021, 卷号: 70, 页码: 13
作者:  Lv, Chengkan;  Shen, Fei;  Zhang, Zhengtao;  Xu, De;  He, Yonghao
Adobe PDF(4910Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：329/70  |  提交时间：2021/11/03
Anomaly detection  autoencoder  background reconstruction  defect inspection  
Industrial Weak Scratches Inspection Based on Multifeature Fusion Network 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2021, 卷号: 70, 期号: 1, 页码: 14
作者:  Tao, Xian;  Zhang, Dapeng;  Hou, Wei;  Ma, Wenzhi;  Xu, De
Adobe PDF(11203Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：426/63  |  提交时间：2021/03/08
Deep learning  defect detection  machine vision  multiple feature fusion  weak scratch inspection  
Efficient insertion strategy for precision assembly with uncertainties using a passive mechanism 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRIAL INFORMATICS, 2021, 卷号: 17, 期号: xx, 页码: xxxx
作者:  Xing DP(邢登鹏);  Liu, Fangfang;  Xu, De
浏览  |  Adobe PDF(2866Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：319/94  |  提交时间：2020/11/02
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