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Development of detection techniques of surface defects for large aperture optical elements based on machine vision 会议论文
第33届中国控制会议, 中国南京, 2014年7月28-30日
作者:  Tao X(陶显);  Zhang ZT(张正涛);  Zhang F(张峰);  Shi YL(史亚莉);  Xu D(徐德)
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A Novel and Effective Surface Flaw Inspection Instrument for Large-Aperture Optical Elements 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2015, 卷号: 64, 期号: 9, 页码: 2530-2540
作者:  Tao, Xian;  Zhang, Zhengtao;  Zhang, Feng;  Xu, De
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Bright-field Imaging System (Bfis)  Dark-field Imaging System (Dfis)  Flaw Inspection  Image Processing  Large-aperture Optical Element  Measurement  Path Planning