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Conductive Particle Detection for Chip on Glass Using Convolutional Neural Network 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2021, 卷号: 70, 期号: 1, 页码: 1-10
作者:  Tao X(陶显);  Ma WZ(马文治);  Lu ZF(逯正峰);  Hou ZX(侯占新)
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缺陷检测  
Vibration Measurement in High Precision for Flexible Structure Based on Microscopic Vision 期刊论文
robotics, 2016, 页码: 1-12
作者:  Tao Xian;  De Xu;  Zhengtao Zhang;  Kai Wang;  Xiaobo Qi
Adobe PDF(3566Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：365/97  |  提交时间：2016/06/20
A Novel and Effective Surface Flaw Inspection Instrument for Large-Aperture Optical Elements 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2015, 卷号: 64, 期号: 9, 页码: 2530-2540
作者:  Tao, Xian;  Zhang, Zhengtao;  Zhang, Feng;  Xu, De
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Bright-field Imaging System (Bfis)  Dark-field Imaging System (Dfis)  Flaw Inspection  Image Processing  Large-aperture Optical Element  Measurement  Path Planning