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Combining Prior Knowledge With CNN for Weak Scratch Inspection of Optical Components 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2021, 卷号: 70, 期号: 1, 页码: 11
作者:  Hou, Wei;  Tao, Xian;  Xu, De
Adobe PDF(6798Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：381/130  |  提交时间：2021/03/08
Convolutional neural network (CNN)  direction-sensitive convolution (DSC)  local maximum index (LMI)  optical component  weak scratch inspection  
Detection of Power Line Insulator Defects using Aerial Images Analyzed with Convolutional Neural Networks 期刊论文
IEEE Transactions on Systems Man Cybernetics-Systems, 2018, 卷号: 50, 期号: 0, 页码: 0
作者:  Tao Xian;  Zhang Dapeng;  Wang Zihao;  Liu Xilong;  Zhang Hongyan;  Xu De
Adobe PDF(2627Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：858/337  |  提交时间：2018/10/08
Defect Detection  Insulators  Aerial Image  Convolutional Neural Network  
Wire Defect Recognition of Spring-Wire Socket Using Multitask Convolutional Neural Networks 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS PACKAGING AND MANUFACTURING TECHNOLOGY, 2018, 卷号: 8, 期号: 4, 页码: 689-698
作者:  Tao, Xian;  Wang, Zihao;  Zhang, Zhengtao;  Zhang, Dapeng;  Xu, De;  Gong, Xinyi;  Zhang, Lei
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Convolutional Neural Network (Cnn)  Defect Recognition  Machine Vision  Multitask Learning  Spring-wire Sockets  
Development of detection techniques of surface defects for large aperture optical elements based on machine vision 会议论文
第33届中国控制会议, 中国南京, 2014年7月28-30日
作者:  Tao X(陶显);  Zhang ZT(张正涛);  Zhang F(张峰);  Shi YL(史亚莉);  Xu D(徐德)
浏览  |  Adobe PDF(619Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：505/194  |  提交时间：2016/06/20
Vibration Measurement in High Precision for Flexible Structure Based on Microscopic Vision 期刊论文
robotics, 2016, 页码: 1-12
作者:  Tao Xian;  De Xu;  Zhengtao Zhang;  Kai Wang;  Xiaobo Qi
Adobe PDF(3566Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：340/89  |  提交时间：2016/06/20
A Novel and Effective Surface Flaw Inspection Instrument for Large-Aperture Optical Elements 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2015, 卷号: 64, 期号: 9, 页码: 2530-2540
作者:  Tao, Xian;  Zhang, Zhengtao;  Zhang, Feng;  Xu, De
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Bright-field Imaging System (Bfis)  Dark-field Imaging System (Dfis)  Flaw Inspection  Image Processing  Large-aperture Optical Element  Measurement  Path Planning