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A Novel Pixel-Wise Defect Inspection Method Based on Stable Background Reconstruction 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2021, 卷号: 70, 页码: 13
作者:  Lv, Chengkan;  Shen, Fei;  Zhang, Zhengtao;  Xu, De;  He, Yonghao
Adobe PDF(4910Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：312/67  |  提交时间：2021/11/03
Anomaly detection  autoencoder  background reconstruction  defect inspection  
A Fast Surface Defect Detection Method Based on Background Reconstruction 期刊论文
INTERNATIONAL JOURNAL OF PRECISION ENGINEERING AND MANUFACTURING, 2019, 卷号: 21, 期号: 3, 页码: 363-375
作者:  Lv, Chengkan;  Zhang, Zhengtao;  Shen, Fei;  Zhang, Feng;  Su, Hu
Adobe PDF(2471Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：381/59  |  提交时间：2020/03/30
Defect detection  Unsupervised learning  Background reconstruction  
An overview of contour detection approaches 期刊论文
International Journal of Automation and Computing, 2018, 卷号: 15, 期号: 6, 页码: 656-672
作者:  Gong XY(宫新一);  Hu Su;  De Xu;  Zhengtao Zhang;  Fei Shen;  Huabin Yang
浏览  |  Adobe PDF(8437Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：640/195  |  提交时间：2019/05/08
Contour Detection, Contour Salience, Gestalt Principle, Contour Grouping, Active Contour  
Surface flaws detection algorithms for large aperture optical element 会议论文
, 北京, 2015.08.22-2015.08.24
作者:  Zhang Zheng-Tao;  Tao Xian;  Xu De;  Tao X(陶显)
浏览  |  Adobe PDF(1794Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：305/67  |  提交时间：2018/01/04
The Development and Prospect of Surface Defect Detection Based on Vision Measurement Method 会议论文
, 中国桂林, 2016.05.12-2016.05.15
作者:  Yuan LX(袁伦喜);  Zhang ZT(张正涛);  Tao X(陶显)
浏览  |  Adobe PDF(657Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：748/305  |  提交时间：2017/05/10
Defect Detect  Vision Measurement  
A Novel and Effective Surface Flaw Inspection Instrument for Large-Aperture Optical Elements 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2015, 卷号: 64, 期号: 9, 页码: 2530-2540
作者:  Tao, Xian;  Zhang, Zhengtao;  Zhang, Feng;  Xu, De
浏览  |  Adobe PDF(591Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：567/152  |  提交时间：2015/09/23
Bright-field Imaging System (Bfis)  Dark-field Imaging System (Dfis)  Flaw Inspection  Image Processing  Large-aperture Optical Element  Measurement  Path Planning