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共8条,第1-8条
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专题:精密感知与控制
第一作者的第一单位
第一作者单位
通讯作者单位
发表日期:2021
文献类型:期刊论文
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Conductive Particle Detection for Chip on Glass Using Convolutional Neural Network
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2021, 卷号: 70, 期号: 1, 页码: 1-10
作者:
Tao X(陶显)
;
Ma WZ(马文治)
;
Lu ZF(逯正峰)
;
Hou ZX(侯占新)
Adobe PDF(3208Kb)
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浏览/下载:233/56
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提交时间:2022/03/03
缺陷检测
Automatic Unsupervised Fabric Defect Detection Based on Self-Feature Comparison
期刊论文
ELECTRONICS, 2021, 卷号: 10, 期号: 21, 页码: 14
作者:
Peng, Zhengrui
;
Gong, Xinyi
;
Wei, Bengang
;
Xu, Xiangyi
;
Meng, Shixiong
Adobe PDF(1593Kb)
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浏览/下载:237/51
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提交时间:2021/12/28
fabric defect
unsupervised learning
computer vision
deep learning
基于深度学习的表面缺陷检测方法综述
期刊论文
自动化学报, 2021, 卷号: 47, 期号: 5, 页码: 1017-1034
作者:
陶显
;
侯伟
;
徐德
Adobe PDF(9009Kb)
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浏览/下载:290/56
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提交时间:2021/06/21
深度学习
表面缺陷检测
机器视觉
卷积神经网络
A Self-Supervised CNN for Particle Inspection on Optical Element
期刊论文
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2021, 卷号: 70, 期号: 1, 页码: 1-12
作者:
Hou W(侯伟)
;
Tao X(陶显)
;
Xu D(徐德)
Adobe PDF(2721Kb)
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浏览/下载:258/64
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提交时间:2021/06/21
Inspection
Feature reuse
optical element
particle inspection
self-supervised learning
transfer learning
Improving One-Shot NAS with Shrinking-and-Expanding Supernet
期刊论文
Pattern Recognition, 2021, 卷号: 118, 期号: 0, 页码: 0
作者:
Hu YM(胡一鸣)
Adobe PDF(1755Kb)
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浏览/下载:170/40
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提交时间:2021/06/18
Neural architecture search
supernet
Search space shrinking
EDDs: A series of Efficient Defect Detectors for fabric quality inspection
期刊论文
MEASUREMENT, 2021, 卷号: 172, 期号: 1, 页码: 8
作者:
Zhou, Tong
;
Zhang, Jiabin
;
Su, Hu
;
Zou, Wei
;
Zhang, Bohao
Adobe PDF(1132Kb)
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浏览/下载:304/57
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提交时间:2021/04/21
Defect detection
Convolutional neural network
Fabric quality inspection
Feature fusion
Automated Pose Measurement Method Based on Multivision and Sensor Collaboration for Slice Microdevice
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRIAL ELECTRONICS, 2021, 卷号: 68, 期号: 1, 页码: 488-498
作者:
Shen, Fei
;
Qin, Fangbo
;
Zhang, Zhengtao
;
Xu, De
;
Zhang, Juan
;
Wu, Wenrong
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提交时间:2021/01/06
Image feature extraction
microassembly
multimicroscopic vision control
pose measurement
slice microdevice
Joint alignment and simultaneous insertion of multiple objects in precision assembly
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRIAL INFORMATICS, 2021, 期号: xx, 页码: xxxx
作者:
Xing DP(邢登鹏)
;
Liu, Fangfang
;
Xu, De
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提交时间:2020/11/02
assembly