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作者:张正涛
第一作者
作者:徐德
专题:中科院工业视觉智能装备工程实验室
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Automated Pose Measurement Method Based on Multivision and Sensor Collaboration for Slice Microdevice
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRIAL ELECTRONICS, 2021, 卷号: 68, 期号: 1, 页码: 488-498
作者:
Shen, Fei
;
Qin, Fangbo
;
Zhang, Zhengtao
;
Xu, De
;
Zhang, Juan
;
Wu, Wenrong
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提交时间:2021/01/06
Image feature extraction
microassembly
multimicroscopic vision control
pose measurement
slice microdevice
A Robust Detection Method of Control Points for Calibration and Measurement With Defocused Images
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2017, 卷号: 66, 期号: 10, 页码: 2725-2735
作者:
Ding, Wendong
;
Liu, Xilong
;
Xu, De
;
Zhang, Dapeng
;
Zhang, Zhengtao
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提交时间:2018/01/04
Camera Calibration
Control Point Detection
Defocused Image
Point Spread Function
Vision Measurement
An Active Radial Compliance Method with Anisotropic Stiffness Learning for Precision Assembly
期刊论文
INTERNATIONAL JOURNAL OF PRECISION ENGINEERING AND MANUFACTURING, 2017, 卷号: 18, 期号: 4, 页码: 471-478
作者:
Qin, Fang-Bo
;
Xu, De
;
Xing, Deng-Peng
;
Zhang, Zheng-Tao
Adobe PDF(1183Kb)
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浏览/下载:403/113
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提交时间:2017/07/18
Active Compliance
Force Control
Learning From Experience
Vision Measurement
Precision Assembly
A Novel and Effective Surface Flaw Inspection Instrument for Large-Aperture Optical Elements
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2015, 卷号: 64, 期号: 9, 页码: 2530-2540
作者:
Tao, Xian
;
Zhang, Zhengtao
;
Zhang, Feng
;
Xu, De
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提交时间:2015/09/23
Bright-field Imaging System (Bfis)
Dark-field Imaging System (Dfis)
Flaw Inspection
Image Processing
Large-aperture Optical Element
Measurement
Path Planning
Methods of Depth Measurement and Image Fusion Based on Multi-focus Micro-images
会议论文
25th Chinese Control and Decision Conference (CCDC), Guiyang, 25-27 May 2013
作者:
Yin YingJie
;
Wang, Xingang
;
Xu, De
;
Zhang, Zhengtao
;
Bai, Mingran
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提交时间:2016/06/20
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