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Conductive Particle Detection for Chip on Glass Using Convolutional Neural Network 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2021, 卷号: 70, 期号: 1, 页码: 1-10
作者:  Tao X(陶显);  Ma WZ(马文治);  Lu ZF(逯正峰);  Hou ZX(侯占新)
Adobe PDF(3208Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：225/54  |  提交时间：2022/03/03
缺陷检测  
Automatic Unsupervised Fabric Defect Detection Based on Self-Feature Comparison 期刊论文
ELECTRONICS, 2021, 卷号: 10, 期号: 21, 页码: 14
作者:  Peng, Zhengrui;  Gong, Xinyi;  Wei, Bengang;  Xu, Xiangyi;  Meng, Shixiong
Adobe PDF(1593Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：223/48  |  提交时间：2021/12/28
fabric defect  unsupervised learning  computer vision  deep learning  
工业场景下基于数据驱动的表面缺陷视觉检测方法研究 学位论文
, 中国科学院自动化研究所: 中国科学院自动化研究所, 2021
作者:  张家斌
Adobe PDF(13002Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：267/16  |  提交时间：2021/06/23
深度学习  表面缺陷检测  网络结构优化  不规则四边形检测  弱监督学习  异常检测  
基于深度学习的表面缺陷检测方法综述 期刊论文
自动化学报, 2021, 卷号: 47, 期号: 5, 页码: 1017-1034
作者:  陶显;  侯伟;  徐德
Adobe PDF(9009Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：286/55  |  提交时间：2021/06/21
深度学习  表面缺陷检测  机器视觉  卷积神经网络  
A Self-Supervised CNN for Particle Inspection on Optical Element 期刊论文
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2021, 卷号: 70, 期号: 1, 页码: 1-12
作者:  Hou W(侯伟);  Tao X(陶显);  Xu D(徐德)
Adobe PDF(2721Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：248/59  |  提交时间：2021/06/21
Inspection  Feature reuse  optical element  particle inspection  self-supervised learning  transfer learning  
Improving One-Shot NAS with Shrinking-and-Expanding Supernet 期刊论文
Pattern Recognition, 2021, 卷号: 118, 期号: 0, 页码: 0
作者:  Hu YM(胡一鸣)
Adobe PDF(1755Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：165/39  |  提交时间：2021/06/18
Neural architecture search  supernet  Search space shrinking  
基于显微视觉和力信息的微装配技能学习研究 学位论文
, 中国科学院自动化研究所: 中国科学院大学, 2021
作者:  李迎
Adobe PDF(4331Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：233/16  |  提交时间：2021/06/16
姿态测量  微装配  模仿学习  强化学习  技能学习  
EDDs: A series of Efficient Defect Detectors for fabric quality inspection 期刊论文
MEASUREMENT, 2021, 卷号: 172, 期号: 1, 页码: 8
作者:  Zhou, Tong;  Zhang, Jiabin;  Su, Hu;  Zou, Wei;  Zhang, Bohao
Adobe PDF(1132Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：294/55  |  提交时间：2021/04/21
Defect detection  Convolutional neural network  Fabric quality inspection  Feature fusion  
Automated Pose Measurement Method Based on Multivision and Sensor Collaboration for Slice Microdevice 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRIAL ELECTRONICS, 2021, 卷号: 68, 期号: 1, 页码: 488-498
作者:  Shen, Fei;  Qin, Fangbo;  Zhang, Zhengtao;  Xu, De;  Zhang, Juan;  Wu, Wenrong
收藏  |  浏览/下载：264/0  |  提交时间：2021/01/06
Image feature extraction  microassembly  multimicroscopic vision control  pose measurement  slice microdevice  
Joint alignment and simultaneous insertion of multiple objects in precision assembly 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRIAL INFORMATICS, 2021, 期号: xx, 页码: xxxx
作者:  Xing DP(邢登鹏);  Liu, Fangfang;  Xu, De
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